粉體特性測(cè)試-卡爾指數(shù)法
2023-08-20
卡爾指數(shù)法是一種測(cè)量粉體流動(dòng)特性的方法。該方法通過(guò)差角、壓縮度、空隙率、噴注性指數(shù)等一系列特定參數(shù)來(lái)表征粉體的流動(dòng)性。差角越小，粉體的流動(dòng)性與噴流性越強(qiáng)。壓縮度反映粉體的流動(dòng)特性，壓縮度越大，粉體的流動(dòng)性就越差。空隙率則因顆粒形狀、排列結(jié)構(gòu)、粒徑等因素而變化
了解更多
電阻率測(cè)試儀
2023-08-20
電阻率測(cè)試儀具有高精度、高穩(wěn)定性、高分辨率等優(yōu)點(diǎn)，可以廣泛應(yīng)用于各種材料的研究、生產(chǎn)和質(zhì)量控制等領(lǐng)域。例如，在半導(dǎo)體工業(yè)中，電阻率測(cè)試儀可以用于檢測(cè)半導(dǎo)體材料和器件的電性能，以確保它們符合要求。
了解更多
斯科特(史考特)容量計(jì)松裝密度測(cè)試儀
2023-08-20
斯柯特容量計(jì)法是一種測(cè)量粉末松裝密度的方法，基于斯柯特容量計(jì)測(cè)定原理。將粉末放入斯柯特容量計(jì)的漏斗中，讓粉末通過(guò)一系列的阻尼板和擋板，進(jìn)入已知體積的圓柱杯中，然后稱(chēng)量圓柱杯中金屬粉末的質(zhì)量，用粉末的質(zhì)量除以圓柱杯的體積，即得到該粉末的松裝密度值。該測(cè)試裝置適用于不能自由流過(guò)漏斗法中孔徑為5mm的漏斗和用振動(dòng)漏斗法易改變特性的粉末。
了解更多
電壓降測(cè)試儀
2023-08-20
電壓降測(cè)試儀是一種用于測(cè)量電壓降的設(shè)備。它可以通過(guò)測(cè)量不可重接插頭插銷(xiāo)與連接插頭引出線(xiàn)等類(lèi)似接線(xiàn)口的電壓降，來(lái)判斷接線(xiàn)口優(yōu)劣。該測(cè)試儀具有可調(diào)的恒電流輸出，微電壓測(cè)試和數(shù)碼管顯示。測(cè)試可設(shè)定時(shí)間，時(shí)間到和電流*高關(guān)斷電路測(cè)量
了解更多
高溫電阻率測(cè)試儀
2023-08-20
高溫電阻率測(cè)試儀是一種用于測(cè)量材料在高溫環(huán)境下的電阻率的儀器。該儀器能夠在高溫條件下運(yùn)行，可以對(duì)材料進(jìn)行高溫測(cè)試，以評(píng)估其在高溫條件下的電性能。 高溫電阻率測(cè)試儀通常采用四探針?lè)ㄟM(jìn)行測(cè)量，其基本原理是通過(guò)接觸材料表面的四個(gè)探針，測(cè)量材料在高溫條件下的電阻值，并計(jì)算出電阻率。該儀器具有高精度、高穩(wěn)定性、高分辨率等優(yōu)點(diǎn)，同時(shí)可以控制測(cè)試溫度，進(jìn)行高溫測(cè)試。
了解更多
導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀
2023-08-20
導(dǎo)體電阻率測(cè)量：測(cè)試儀可以測(cè)量各種材料的導(dǎo)體電阻率，包括電線(xiàn)電纜、連接器插頭、導(dǎo)體電阻、PCB電路、焊孔電阻、接地電阻等。 測(cè)試速度快捷：測(cè)試速度可以達(dá)到10次/秒，同時(shí)保證0.05%的精度，讀數(shù)跳動(dòng)可控制在5個(gè)字符以下。 高性能微處理器控制：測(cè)試儀由高性能的微處理器進(jìn)行控制，具有高精度、高穩(wěn)定性、高分辨率等優(yōu)點(diǎn)。
了解更多
體積電阻率測(cè)試儀
2023-08-20
體積電阻率測(cè)試儀一般采用電極式測(cè)量方法，即通過(guò)兩個(gè)電極接觸材料表面，測(cè)量電極之間的電阻值，進(jìn)而計(jì)算出材料的體積電阻率。 通常體積電阻率越高，材料用做電絕緣部件的效能就越高。通常所說(shuō)的電阻率即為體積電阻率。 體積電阻率測(cè)量：測(cè)試儀可以測(cè)量各種材料的體積電阻率，包括絕緣材料、抗燃油、變壓器油等 三環(huán)電極是體積電阻測(cè)試儀的一種電極類(lèi)型
了解更多
表面電阻率測(cè)試儀
2023-08-20
表面電阻率測(cè)試儀是一種用于測(cè)量物體表面電阻值的儀器。它通過(guò)測(cè)試物體表面電阻，可以評(píng)估物體的導(dǎo)電性能，對(duì)于微電子、醫(yī)藥、航空航天、精密機(jī)械等領(lǐng)域具有重要意義。 表面電阻率測(cè)試儀一般采用電極式測(cè)量方法，即通過(guò)兩個(gè)電極接觸物體表面，測(cè)量電極之間的電阻值，進(jìn)而計(jì)算出物體的表面電阻率。
了解更多
方塊電阻測(cè)試儀
2023-08-20
方塊電阻測(cè)試儀是一種用于測(cè)量半導(dǎo)體材料的方塊電阻的儀器。它采用四探針?lè)ǎㄟ^(guò)接觸材料表面的四個(gè)探針來(lái)測(cè)量其方塊電阻值。 方塊電阻測(cè)試儀的功能包括： 電阻率測(cè)量：通過(guò)四探針?lè)ǎ瑴y(cè)量半導(dǎo)體材料或薄膜的電阻率。 薄層電阻測(cè)量：對(duì)于薄層材料或薄膜，該設(shè)備可以測(cè)量其薄層電阻。 方塊電阻測(cè)量：可以測(cè)量半導(dǎo)體材料和薄膜的方塊電阻。
了解更多
四探針電阻率測(cè)試儀
2023-08-20
四探針電阻率測(cè)試儀是一種用于測(cè)量材料電阻率的儀器，采用四探針?lè)ㄟM(jìn)行測(cè)量。四探針?lè)ㄊ且环N電學(xué)測(cè)量方法，通過(guò)接觸材料表面的四個(gè)探針來(lái)測(cè)量其電阻值，并根據(jù)材料的具體形狀和尺寸計(jì)算出電阻率。
了解更多
