雙電測數(shù)字式四探針測試儀
發(fā)布時間： 2023-06-13 14:11:20 點擊： 598
雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測-改進形范德堡測量方法測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高正確度，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。
儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺以及PC軟件等部分組成。
主機主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成，USB通訊接口。儀器主機所有參數(shù)設定、功能轉換全部采用數(shù)字化鍵盤和數(shù)碼開關輸入；具有零位、滿度自校功能；測試功能可自動/手動方式；儀器操作可由配套軟件在PC機上操作完成，也可脫PC機由四探針儀器面板上獨立操作完成。測試結果數(shù)據(jù)由主機數(shù)碼管直接顯示，也可連機由軟件界面同步顯示、分析、保存和打印！
探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、測量簡便、結構緊湊、使用方便等特點。
儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。
四探針測試儀是一種用于測量金屬材料電學性質的儀器，其采用了四電極測量方式，相比傳統(tǒng)的兩電極或三電極測試儀具有更高的精度和穩(wěn)定性，在材料科學和研究領域擁有廣泛的應用。
一、四探針測試儀的結構
四探針測試儀主要由四個探針、樣品臺、測量儀器和控制系統(tǒng)等部分組成。其中，探針分別對應著電流探針、兩個間隔的A、B探針和電壓探針，樣品臺則是進行測量的基本位置，儀器會通過控制系統(tǒng)產(chǎn)生所需的電壓和電流信號，并記錄下經(jīng)過樣品的電阻、電導和Sheet阻值等參數(shù)。
二、四探針測試儀的工作原理
四探針測試儀工作原理基于四探針法，即通過四根探針分別接觸樣品，從而將橫向電流和垂直電流分離開來，在去除基本電阻和電流傳輸阻抗的影響下，得到準確的樣品電阻值。此方法能夠消除電極接觸電阻和樣品表面膜層表觀電阻的影響，使得實驗數(shù)據(jù)精確度大幅提高。
三、四探針測試儀的應用范圍
四探針測試儀在材料性能研究和質量檢測中擁有廣泛的應用。它可以被用來測量金屬、半導體、陶瓷等材料電學參數(shù)，例如材料的Sheet阻值，電阻率和電導率等，同時還可以應用于磁性材料、液晶材料、電解質等領域的研究和開發(fā)。
四、總結
總之，四探針測試儀作為一種高精度可靠的電學測試儀器，能夠準確測量材料的電學性能參數(shù)，使得人們對材料的電學性質和材料特性有了更深入的認識。隨著科技的不斷發(fā)展，四探針測試儀將會變得更加智能化、便捷化，為材料科學領域研究和工業(yè)發(fā)展帶來更便利的經(jīng)驗和技術支持。
儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺以及PC軟件等部分組成。
主機主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成，USB通訊接口。儀器主機所有參數(shù)設定、功能轉換全部采用數(shù)字化鍵盤和數(shù)碼開關輸入；具有零位、滿度自校功能；測試功能可自動/手動方式；儀器操作可由配套軟件在PC機上操作完成，也可脫PC機由四探針儀器面板上獨立操作完成。測試結果數(shù)據(jù)由主機數(shù)碼管直接顯示，也可連機由軟件界面同步顯示、分析、保存和打印！
探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、測量簡便、結構緊湊、使用方便等特點。
儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。
四探針測試儀是一種用于測量金屬材料電學性質的儀器，其采用了四電極測量方式，相比傳統(tǒng)的兩電極或三電極測試儀具有更高的精度和穩(wěn)定性，在材料科學和研究領域擁有廣泛的應用。
一、四探針測試儀的結構
四探針測試儀主要由四個探針、樣品臺、測量儀器和控制系統(tǒng)等部分組成。其中，探針分別對應著電流探針、兩個間隔的A、B探針和電壓探針，樣品臺則是進行測量的基本位置，儀器會通過控制系統(tǒng)產(chǎn)生所需的電壓和電流信號，并記錄下經(jīng)過樣品的電阻、電導和Sheet阻值等參數(shù)。
二、四探針測試儀的工作原理
四探針測試儀工作原理基于四探針法，即通過四根探針分別接觸樣品，從而將橫向電流和垂直電流分離開來，在去除基本電阻和電流傳輸阻抗的影響下，得到準確的樣品電阻值。此方法能夠消除電極接觸電阻和樣品表面膜層表觀電阻的影響，使得實驗數(shù)據(jù)精確度大幅提高。
三、四探針測試儀的應用范圍
四探針測試儀在材料性能研究和質量檢測中擁有廣泛的應用。它可以被用來測量金屬、半導體、陶瓷等材料電學參數(shù)，例如材料的Sheet阻值，電阻率和電導率等，同時還可以應用于磁性材料、液晶材料、電解質等領域的研究和開發(fā)。
四、總結
總之，四探針測試儀作為一種高精度可靠的電學測試儀器，能夠準確測量材料的電學性能參數(shù)，使得人們對材料的電學性質和材料特性有了更深入的認識。隨著科技的不斷發(fā)展，四探針測試儀將會變得更加智能化、便捷化，為材料科學領域研究和工業(yè)發(fā)展帶來更便利的經(jīng)驗和技術支持。
