方塊電阻測試原理
發布時間： 2023-08-21 16:09:08 點擊： 1513
方塊電阻又稱膜電阻，是用于間接表征薄膜膜層、玻璃鍍膜膜層等樣品上的真空鍍膜的熱紅外性能的測量值。這個數值可以用來計算熱紅外輻射率。方塊電阻的大小與樣品尺寸無關，其單位為Siements/sq，也可以用歐姆/sq表示。
方塊電阻測試是用來測量半導體材料制成的薄膜或大圓片的電阻值的測試方法。其測量原理是基于四探針法，通過四個探針的接觸來提供測試電流和提取電位差。在膜寬大于探針間距時，可以計算出方阻與等效四端電阻的比值為4.532。根據這個比值，儀器內部會自動計算出方阻大小。方塊電阻的單位是歐姆，其符號為Ω。
方塊電阻測試是用來測量半導體材料制成的薄膜或大圓片的電阻值的測試方法。其測量原理是基于四探針法，通過四個探針的接觸來提供測試電流和提取電位差。在膜寬大于探針間距時，可以計算出方阻與等效四端電阻的比值為4.532。根據這個比值，儀器內部會自動計算出方阻大小。方塊電阻的單位是歐姆，其符號為Ω。
上一頁：壓實密度測試方法
下一頁：方塊電阻的功能及應用概述
